刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Development of highly accelerated electromigration test Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Experimental investigation on the impact of stress free temperature on the electromigration performance of copper dual damascene submicron interconnect Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Electromigration in damascene copper interconnects of line width down to 100 nm Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper Development of highly accelerated electromigration test Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Mapping of solder mask covered interconnects on high density printed circuit board Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming A comprehensive semi-empirical mobility model for strained-Si N-MOSFETs Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming A comprehensive predictive maintenance model for equipment maintenance in the semiconductor industry Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming A cost model for the predictive maintenance policy of a multi-state system Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
