陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Automated wafer defect map generation for process yield improvement Byidiotj2002dm 2011 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Identifying key parameters for risk based inspections (RBI) Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Identifying key parameters for risk based inspections (RBI) and failure mode effect analysis (FMEA) (invited) Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication QFD implementation in a discrete semiconductor industry Byidiotj2002dm 2002 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication A new quality control parameter in wafer fabrication for wire bonding integrity Byidiotj2002dm 2000 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Integrating device modeling in QFD implementation for power electronics applications Byidiotj2002dm 2000 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Computerization of quality control in electronics components industry Byidiotj2002dm 1995 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日