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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Direct Fabrication of inkjet-printed dielectric film for metal–insulator–metal capacitors

ByJames 2018 年 1 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Fully Inkjet-Printing of Metal-Polymer-Metal Multilayer on a Flexible Liquid Crystal Polymer Substrate

ByJames 2017 年 11 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

A High Output Power and Low Phase Noise GaN HEMT VCO With Array of Switchable Inductors

ByJames 2017 年 11 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Improved Reverse Recovery Characteristics of InAlN/GaN Schottky Barrier Diode Using a SOI Substrate

ByJames 2017 年 10 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

RF Performance of in-situ SiNx Gate Dielectric AlGaN/GaN MISHEMT on 6-inch Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate

ByJames 2017 年 10 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Effect of Body Bias and Temperature on Low-Frequency Noise in 40-nm nMOSFETs

ByJames 2017 年 9 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Improved Reverse Recovery Characteristics of Low Turn-On Voltage AlGaN/GaN Schottky Barrier Diodes with Anode Edge AlON Spacers

ByJames 2017 年 5 月 13 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Fast Low-Temperature Plasma Process for the Application of Flexible Tin-Oxide-Channel Thin Film Transistors

ByJames 2017 年 5 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Channel modification engineering by plasma processing in tin-oxide thin film transistor: experimental results and first-principles calculation

ByJames 2017 年 4 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Electrical instability of InGaZnO thin-film transistors with and without titanium sub-oxide layer under light illumination

ByJames 2017 年 3 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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TEL:886-3-2118800 ext 3872
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