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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

Author: James

期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Improved Reverse Recovery Characteristics of Low Turn-On Voltage AlGaN/GaN Schottky Barrier Diodes with Anode Edge AlON Spacers

ByJames 2017 年 5 月 13 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Fast Low-Temperature Plasma Process for the Application of Flexible Tin-Oxide-Channel Thin Film Transistors

ByJames 2017 年 5 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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中心公告

世界級大師出任顧問、師資陣容跨多領域:亞洲首創、可靠度科學技術研究中心

ByJames 2017 年 5 月 1 日2021 年 3 月 19 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Channel modification engineering by plasma processing in tin-oxide thin film transistor: experimental results and first-principles calculation

ByJames 2017 年 4 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
著作 Book

Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry

ByJames 2017 年 3 月 3 日2021 年 3 月 3 日

Read More Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia IndustryContinue

期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

Electrical instability of InGaZnO thin-film transistors with and without titanium sub-oxide layer under light illumination

ByJames 2017 年 3 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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期刊 Journal Paper

A 60 GHz CMOS Frequency Tripler With Broadband Performance

ByJames 2017 年 3 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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中心公告

亞洲最完整!長庚大學「可靠度中心」正式開幕

ByJames 2017 年 2 月 17 日2021 年 3 月 17 日

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2017.02.17 Opening of the Center
影像集 Album

2017.02.17 Opening of the Center

ByJames 2017 年 2 月 17 日2021 年 3 月 24 日

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期刊 Journal Paper | 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

A Coupled Inductor Dual-mode Switched voltage controlled oscillator Using GaN-on-Si HEMT Technology

ByJames 2017 年 2 月 1 日2021 年 4 月 13 日

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333323桃園市龜山區文化一路259號第二醫學大樓4樓
4th Floor, 2nd Medical Science Building, No.259, Wenhua 1st Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 33302, Taiwan (R.O.C.)
TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
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