刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Electromigration in ULSI Interconnection (keynote) Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Enhanced finite element modelling of Cu electromigration using ANSYS and Matlab Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Revisit to the finite element modeling of electromigration for narrow interconnects Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper nhanced Finite Element Modelling of Cu Electromigration using ANSYS and Matlab Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper Reverse breakdown voltage measurement for power P+NN+ rectifier Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper Unveiling the electromigration physics of ULSI interconnects through statistics Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming The physical limit and manufacturability of power diode with carrier lifetime control Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Finite element modeling of capacitive coupling voltage contrast Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Predicting Integrated Circuit Reliability from Wafer Fabrication Technology Reliability Data Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
