跳至主要內容
可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
搜尋
  • 首頁
  • 中心簡介
    • 主任介紹 Director
    • 主任的話 Message
    • 中心願景 Vision&Mission
    • 可靠度學程 Program
    • 獲獎 Awards
    • 組織架構 Organization
  • CReST談話
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album
  • 研究群
  • 實驗室核心
    • 設備 Equipment
    • 軟體 Software
    • 合作 Cooperation
  • 研究成果
  • 刊物
    • 著作 Book
    • 著作章節 Book chapters
    • 期刊 Journal Paper
    • 會議論文 Conference Paper
  • 聯絡
  • 網站導覽
  • 長庚大學
  • English
  • 中文 (台灣)
  • 長庚大學
    • English
    可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
    • 首頁
    • 中心簡介
      • 主任介紹 Director
      • 主任的話 Message
      • 中心願景 Vision&Mission
      • 可靠度學程 Program
      • 獲獎 Awards
      • 組織架構 Organization
    • CReST談話
      • 中心季刊 Newsletter
      • 影像集 Album
    • 研究群
    • 實驗室核心
      • 設備 Equipment
      • 軟體 Software
      • 合作 Cooperation
    • 研究成果
    • 刊物
      • 著作 Book
      • 著作章節 Book chapters
      • 期刊 Journal Paper
      • 會議論文 Conference Paper
    • 聯絡
    • 網站導覽
    • 長庚大學
    • English
    • 中文 (台灣)
  • 長庚大學
    • English

    Blech effect in Cu interconnects with oxide and low-k dielectrics

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Blech effect in Cu interconnects with oxide and low-k dielectrics 閱讀全文 »

    Electromigration in ULSI Interconnection (keynote)

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Electromigration in ULSI Interconnection (keynote) 閱讀全文 »

    Enhanced finite element modelling of Cu electromigration using ANSYS and Matlab

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Enhanced finite element modelling of Cu electromigration using ANSYS and Matlab 閱讀全文 »

    Revisit to the finite element modeling of electromigration for narrow interconnects

    期刊 Journal Paper

    Revisit to the finite element modeling of electromigration for narrow interconnects 閱讀全文 »

    nhanced Finite Element Modelling of Cu Electromigration using ANSYS and Matlab

    期刊 Journal Paper

    nhanced Finite Element Modelling of Cu Electromigration using ANSYS and Matlab 閱讀全文 »

    Reverse breakdown voltage measurement for power P+NN+ rectifier

    期刊 Journal Paper

    Reverse breakdown voltage measurement for power P+NN+ rectifier 閱讀全文 »

    Root cause analysis based maintenance policy

    期刊 Journal Paper

    Root cause analysis based maintenance policy 閱讀全文 »

    Unveiling the electromigration physics of ULSI interconnects through statistics

    期刊 Journal Paper

    Unveiling the electromigration physics of ULSI interconnects through statistics 閱讀全文 »

    The physical limit and manufacturability of power diode with carrier lifetime control

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    The physical limit and manufacturability of power diode with carrier lifetime control 閱讀全文 »

    Finite element modeling of capacitive coupling voltage contrast

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Finite element modeling of capacitive coupling voltage contrast 閱讀全文 »

    ← Previous 1 ... 41 42 43 ... 55 Next →
    • 中心公告
    • 刊物 Publication
      • 著作 Book
      • 會議論文 Conference Paper
        • 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming
        • 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling
        • 李坤穆 Dr. Kun-Mu Lee
        • 陳効謙 Dr. Hsiao-Chien Chen
      • 期刊 Journal Paper
        • 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming
        • 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling
        • 李坤穆 Dr. Kun-Mu Lee
        • 趙自強 Dr. Chao TC
        • 陳効謙 Dr. Hsiao-Chien Chen
      • 著作章節 Book chapters
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album

    近期文章 Recent Posts

    • Newsletter No.9 Jul. 2025
    • 恭賀陳始明教授連續5年榮獲「全球前2%頂尖科學家榜單」殊榮
    • Newsletter No.8 Mar.2024
    • 影片導覽 Video
    • 2023.09.05 臺灣可靠度協會籌備會

    標籤 Tags

    Battery (15) Devices Reliability (27) Electromagnetics (10) Failure Analysis (16) General Reliability (3) Integrated Circuit Reliability (13) Interconnects Reliability (80) LED Reliability (36) Memory (1) Nanotechnology (46) Others (32) Predictive Maintenance (3) Predictive Maintenance/ Prognosis and Health Mgt (7) Prognosis and Health Mgt (16) Quality (8) Quantitative Service Reliability Assessment on Single and Multi Layer Networks (5) Radiation (7) Reliability Statistics (12) Remanufacturing (2) Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry (2) Wafer Bonding (19)

    333323桃園市龜山區文化一路259號第二醫學大樓4樓
    4th Floor, 2nd Medical Science Building, No.259, Wenhua 1st Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 33302, Taiwan (R.O.C.)
    TEL:886-3-2118800 ext 3872
    E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
    網站內容為長庚大學可靠度科學技術研究中心所有,未經允許請勿轉載
    Copyright ©Center for Reliability Sciences & Technologies, Chang Gung University

    • FB
    • Linkedin