可靠度科學技術研究中心 – 第 22 頁 – 可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

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Zeroing of Power Supply Noise Sensitivity for Ring Oscillators Operating from 1 to 4 GHz

期刊 Journal Paper

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Challenges in Reliability Screening for High Power Diodes

刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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2017.06.19 Centre Meeting

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賀本校獲選為「中國工程師學會」之年度產學合作績優學校

中國⼯程師學會為促進公、⺠營事業單位與學校間之產學合作，提昇我國⼯程技術與管理⽔準，以因應國家經濟建設及社會

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期刊 Journal Paper, 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

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Fast Low-Temperature Plasma Process for the Application of Flexible Tin-Oxide-Channel Thin Film Transistors

期刊 Journal Paper, 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

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世界級大師出任顧問、師資陣容跨多領域：亞洲首創、可靠度科學技術研究中心

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Channel modification engineering by plasma processing in tin-oxide thin film transistor: experimental results and first-principles calculation

期刊 Journal Paper, 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling

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Growth Mechanism for Low Temperature PVD Graphene Synthesis on Copper Using Amorphous Carbon

期刊 Journal Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry

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【演講公告】2026.10.15「基於物理的驗證以支持數據驅動範式」德國尤利希研究中心客座教授，廖博彥博士
2026年度「全球前2%頂尖科學家(World’s Top 2% Scientists)」陳始明教授
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