中心公告 | 期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Top 100 paper Physical Limitations of Phosphor layer thickness and concentration for White LEDs | Scientific Reports (nature.com)
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Review of electromigration modeling of IC Interconnects Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper Unveiling the electromigration physics of ULSI interconnects through statistics Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Damage Threshold Determination and Non-destructive Identification of Possible Failure Sites in PIN Limiter Bya0938724577 2014 年 5 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Development of a Sn-Ag-Cu solder reinforced with Ni-coated carbon nanotubes Bya0938724577 2011 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper Experimental investigation on the impact of stress free temperature on the electromigration performance of copper dual damascene submicron interconnect Bya0938724577 2006 年 2 月 25 日2021 年 3 月 4 日
期刊 Journal Paper Electromigration in damascene copper interconnects of line width down to 100 nm Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日
