刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Statistical modeling of via redundancy effects on interconnect reliability Byidiotj2002dm 2008 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Unveiling the electromigration physics of ULSI interconnects through statistics Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Statistical analysis of multi-censored electromigration data using the EM algorithm Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming An approach to statistical analysis of gate oxide breakdown mechanisms Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming New analysis technique for time to failure data in copper electromigration Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Reliability improvement in Al metallization: a combination of statistical prediction and failure analytical methodology Bya0938724577 2004 年 2 月 25 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliabiilty Analysis and Application with MATLAB (invited) Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliability Data Analysis Byidiotj2002dm 2002 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper A reliability statistics perspective on the pitfalls of standard wafer-level electromigration accelerated test (SWEAT) Bya0938724577 2001 年 2 月 25 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliability data analysis software development Byidiotj2002dm 2000 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
