期刊 Journal Paper An approach to statistical analysis of gate oxide breakdown mechanisms Bya0938724577 2007 年 2 月 25 日
期刊 Journal Paper Reverse breakdown voltage measurement for power P+NN+ rectifier Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日
期刊 Journal Paper Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Reliability screening through electrical testing for press-fit alternator power diode in automotive application Bya0938724577 2005 年 2 月 25 日
期刊 Journal Paper Determination of the dice forward I-V characteristics of a power diode from a packaged device and its applications Bya0938724577 2005 年 2 月 25 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Device temperature and stress distributions in power diode – a finite element method Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliability screening through electrical testing for press-fit alternator power diode in automotive application Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Thermally induced stress in partial SOI structure during high temperature processing Bya0938724577 2004 年 2 月 25 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming New useful information from simple forward I-V measurement of a power diode Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
