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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

刊物 Publication

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Comparative study of non-standard power diodes

Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Using nanoparticles and carbon nanotubes to enhance the properties of a lead free solder

Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Transient electrical thermal analysis of ESD process using 3-D finite element method

Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

3D circuit model for 3D IC reliability study (invited)

Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A holistic numerical modeling for interconnect electromigration

Byidiotj2002dm 2008 年 6 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Size effect in Cu nano-interconnects and its implication on electromigration

Byidiotj2002dm 2008 年 3 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Nano-tailoring of carbon nanotube as nano-fillers for composite materials applications

Byidiotj2002dm 2008 年 3 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Methodologies for size, and temperature dependent change of materials properties

Byidiotj2002dm 2008 年 3 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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期刊 Journal Paper

Very high current density package level electromigration test for copper interconnects

Bya0938724577 2008 年 2 月 25 日2021 年 3 月 4 日

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期刊 Journal Paper

A bimodal 3-parameter lognormal mixture distribution for electromigration failures

Bya0938724577 2008 年 2 月 25 日2021 年 3 月 4 日

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  • Highly efficient overall urea electrolysis via single-atomically active centers on layered double hydroxide.

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