陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Black’s equation for today’s ULSI interconnect electromigration (invited) W. Li and C. M. Tan. “Black’s equation for today’s ULSI interconnect electromigration (invited),” in Proc. of IEEE Electron Devices and Solid State Circuits, China, 2011.
著作章節 Book chapters Component-Level Reliability: Physical Models and Testing Regulations Byidiotj2002dm 2016 年 1 月 1 日2021 年 3 月 9 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Recent Development of Reliability and Maintenance (Invited Talk) Byidiotj2002dm 2012 年 9 月 25 日2021 年 4 月 14 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 期刊 Journal Paper Review of electromigration modeling of IC Interconnects Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 12 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 會議論文 Conference Paper | 刊物 Publication Electromigration in ULSI Interconnection (keynote) Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper Overcoming intrinsic weakness of ULSI metallization electromigration performances Bya0938724577 2004 年 2 月 25 日2021 年 3 月 4 日
陳始明 Dr. Tan, Cher Ming | 期刊 Journal Paper Electromagnetic Hotspots Identification in Integrated Circuits Bya0938724577 2019 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日