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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

Author: idiotj2002dm

期刊 Journal Paper

Low temperature silicon wafer bonding by sol-gel processing

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日

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期刊 Journal Paper

Methodology for customer’s focus build-in reliability

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A novel technique to re-construct three dimensional void in passivated metal interconnects

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Silicon-to-silicon wafer bonding efficiency by sol-gel process

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Study of interaction between a-Ta films and SiO2 under rapid thermal annealing

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Influence of applied load on wafer bonding in vacuum

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Improving the reverse blocking capability of carrier stored trench-gate bipolar transistor

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Influence of plasma treatment and cleaning on vacuum wafer bonding

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Effectiveness of delta VF test to detect solder integrity in power diode

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Low temperature silicon wafer bonding by sol-gel processing

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
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