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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

Author: idiotj2002dm

期刊 Journal Paper

Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日

Read More Device level electrical-thermal-stress coupled-field modelingContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Mapping of solder mask covered interconnects on high density printed circuit board

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A comprehensive semi-empirical mobility model for strained-Si N-MOSFETs

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A comprehensive predictive maintenance model for equipment maintenance in the semiconductor industry

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A cost model for the predictive maintenance policy of a multi-state system

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Predictive maintenance and its impact to business decision (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 12 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Maintenance policy for predictive maintenance (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 12 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Stress migration reliability of wide Cu interconnects with Gouging Vias

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Is electron wind force the sole driving force in electromingration of ULSI interconnection? (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
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