期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming 3D simulation-based research on the effect of interconnect structures on circuit reliability Bya0938724577 2012 年 11 月 25 日2021 年 4 月 12 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Physics of electromigration in today ULSI interconnections (Tutorial) Byidiotj2002dm 2012 年 11 月 5 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming 3D electromigration modeling at circuit level (Invited Talk) Byidiotj2002dm 2012 年 11 月 5 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Comparison of electromigration simulation in test structure and actual circuit Bya0938724577 2012 年 10 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliability study of LED driver – a case study of black box testing Bya0938724577 2012 年 10 月 25 日2021 年 4 月 12 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Reliability study of LED driver – a case study of black box testing Byidiotj2002dm 2012 年 10 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Effect of IC layout on the reliability of CMOS amplifiers Bya0938724577 2012 年 8 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Electromigration reliability of interconnections in RF low noise amplifier circuit Bya0938724577 2012 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Effect of IC layout on the reliability of CMOS amplifiers Byidiotj2002dm 2011 年 7 月 1 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Circuit level interconnect reliability study using 3D circuit model Bya0938724577 2010 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
