期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Moisture Resistance Evaluation on Single Electronic Package Moulding Compound Bya0938724577 2020 年 2 月 25 日2021 年 12 月 13 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Challenges in Reliability Screening for High Power Diodes Byidiotj2002dm 2017 年 7 月 4 日2021 年 4 月 14 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Modeling and analysis of gate-all-around silicon nanowire FET Bya0938724577 2014 年 7 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Degradation mechanisms in gate-all-around silicon Nanowire field effect transistor under electrostatic discharge stress – a modeling approach Bya0938724577 2014 年 4 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming ICMAT 2011 – Reliability and variability of semiconductor devices and ICs Byidiotj2002dm 2012 年 8 月 1 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Comparison of SOI and PSOI LDMOS using electrical-thermal-stress coupled field modeling Bya0938724577 2011 年 10 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Electrical-thermal-stress coupled-field effect in SOI and partial SOI lateral power diode Bya0938724577 2011 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Hot carrier reliability of power SOI EDNMOS Bya0938724577 2010 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
期刊 Journal Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Behavior of hot carrier generation in power SOI LDNMOS with shallow trench isolation (STI) Bya0938724577 2009 年 2 月 25 日2021 年 4 月 12 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Comparative study of non-standard power diodes Byidiotj2002dm 2009 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
