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    可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University > 刊物 Publication > 會議論文 Conference Paper > 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming > Electromigration in ULSI Interconnection (keynote)

    Electromigration in ULSI Interconnection (keynote)

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    C. M. Tan. “Electromigration in ULSI Interconnection (keynote),” in 1st Microreliability and Nanoreliability Congress, 2007.

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