刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Statistical modeling of via redundancy effects on interconnect reliability Byidiotj2002dm 2008 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Humidity effect on the degradation of packaged ultra-bright white LEDs, Byidiotj2002dm 2008 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Electromigration in ULSI Interconnection (keynote) Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Enhanced finite element modelling of Cu electromigration using ANSYS and Matlab Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming The physical limit and manufacturability of power diode with carrier lifetime control Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Finite element modeling of capacitive coupling voltage contrast Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Predicting Integrated Circuit Reliability from Wafer Fabrication Technology Reliability Data Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Room temperature observation of point defect on gold surface using thermovoltage mapping Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Statistical analysis of multi-censored electromigration data using the EM algorithm Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
