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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Room temperature observation of point defect on gold surface using thermovoltage mapping Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Statistical analysis of multi-censored electromigration data using the EM algorithm Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming An approach to statistical analysis of gate oxide breakdown mechanisms Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Development of highly accelerated electromigration test Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Experimental investigation on the impact of stress free temperature on the electromigration performance of copper dual damascene submicron interconnect Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Mapping of solder mask covered interconnects on high density printed circuit board Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming A comprehensive semi-empirical mobility model for strained-Si N-MOSFETs Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日
