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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

會議論文 Conference Paper

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Maintenance policy for predictive maintenance (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 12 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Stress migration reliability of wide Cu interconnects with Gouging Vias

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Is electron wind force the sole driving force in electromingration of ULSI interconnection? (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Extrapolation of electromigration reliability assessment from accelerated test for submicron interconnect via structure

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Effect of vacuum break after the barrier layer deposition on the electromigratioin performance of aluminum based line interconnects

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Effect of test condition and stress free temperature on the electromigration failure of Cu dual damascene submicron interconnect line-via structures

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Feasibility of capacitive coupling voltage contrast (CCVC) for the failure analysis of advanced printed circuit board

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Sol-gel coating facilitating Si-to-Si wafer bonding at low temperature

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Examine the impact of maintenance policy for predictive maintenance

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

New analysis technique for time to failure data in copper electromigration

Byidiotj2002dm 2005 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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  • Highly efficient overall urea electrolysis via single-atomically active centers on layered double hydroxide.

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333323桃園市龜山區文化一路259號第二醫學大樓4樓
4th Floor, 2nd Medical Science Building, No.259, Wenhua 1st Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 33302, Taiwan (R.O.C.)
TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
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