Skip to content
可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
  • 首頁
  • 中心簡介Expand
    • 主任介紹 Director
    • 主任的話 Message
    • 中心願景 Vision&Mission
    • 可靠度學程 Program
    • 獲獎 Awards
    • 組織架構 Organization
  • CReST談話Expand
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album
  • 研究群
  • 實驗室核心Expand
    • 設備 Equipment
    • 軟體 Software
    • 合作 Cooperation
  • 研究成果
  • 刊物Expand
    • 著作 Book
    • 著作章節 Book chapters
    • 期刊 Journal Paper
    • 會議論文 Conference Paper
  • 聯絡
  • 網站導覽
  • 長庚大學
  • English
  • 中文 (台灣)
可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

會議論文 Conference Paper

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

An approach to statistical analysis of gate oxide breakdown mechanisms

Byidiotj2002dm 2007 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More An approach to statistical analysis of gate oxide breakdown mechanismsContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Dynamic simulation of electromigration in polycrystalline thin film using combined Monte Carlo algorithm and finite element modeling

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Dynamic simulation of electromigration in polycrystalline thin film using combined Monte Carlo algorithm and finite element modelingContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Development of highly accelerated electromigration test

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Development of highly accelerated electromigration testContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Experimental investigation on the impact of stress free temperature on the electromigration performance of copper dual damascene submicron interconnect

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Experimental investigation on the impact of stress free temperature on the electromigration performance of copper dual damascene submicron interconnectContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Mapping of solder mask covered interconnects on high density printed circuit board

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Mapping of solder mask covered interconnects on high density printed circuit boardContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Device level electrical-thermal-stress coupled-field modeling

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Device level electrical-thermal-stress coupled-field modelingContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A comprehensive semi-empirical mobility model for strained-Si N-MOSFETs

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More A comprehensive semi-empirical mobility model for strained-Si N-MOSFETsContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A comprehensive predictive maintenance model for equipment maintenance in the semiconductor industry

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More A comprehensive predictive maintenance model for equipment maintenance in the semiconductor industryContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

A cost model for the predictive maintenance policy of a multi-state system

Byidiotj2002dm 2006 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More A cost model for the predictive maintenance policy of a multi-state systemContinue

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Predictive maintenance and its impact to business decision (invited)

Byidiotj2002dm 2005 年 12 月 1 日2021 年 4 月 14 日

Read More Predictive maintenance and its impact to business decision (invited)Continue

Page navigation

Previous PagePrevious 1 ... 12 13 14 15 16 ... 21 Next PageNext
Search

近期文章 Recent Posts

  • 恭賀陳始明教授連續4年榮獲「全球前2%頂尖科學家榜單」殊榮
  • Newsletter No.8 Mar.2024
  • 影片導覽 Video
  • 2023.09.05 臺灣可靠度協會籌備會
  • Highly efficient overall urea electrolysis via single-atomically active centers on layered double hydroxide.

標籤 Tags

Battery (15) Devices Reliability (27) Electromagnetics (10) Failure Analysis (16) General Reliability (3) Integrated Circuit Reliability (13) Interconnects Reliability (80) LED Reliability (36) Memory (1) Nanotechnology (46) Others (32) Predictive Maintenance (3) Predictive Maintenance/ Prognosis and Health Mgt (7) Prognosis and Health Mgt (16) Quality (8) Quantitative Service Reliability Assessment on Single and Multi Layer Networks (5) Radiation (7) Reliability Statistics (12) Remanufacturing (2) Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry (2) Wafer Bonding (19)

333323桃園市龜山區文化一路259號第二醫學大樓4樓
4th Floor, 2nd Medical Science Building, No.259, Wenhua 1st Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 33302, Taiwan (R.O.C.)
TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
網站內容為長庚大學可靠度科學技術研究中心所有,未經允許請勿轉載
Copyright ©Center for Reliability Sciences & Technologies, Chang Gung University

Facebook Linkedin
  • 首頁
  • 中心簡介
    • 主任介紹 Director
    • 主任的話 Message
    • 中心願景 Vision&Mission
    • 可靠度學程 Program
    • 獲獎 Awards
    • 組織架構 Organization
  • CReST談話
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album
  • 研究群
  • 實驗室核心
    • 設備 Equipment
    • 軟體 Software
    • 合作 Cooperation
  • 研究成果
  • 刊物
    • 著作 Book
    • 著作章節 Book chapters
    • 期刊 Journal Paper
    • 會議論文 Conference Paper
  • 聯絡
  • 網站導覽
  • 長庚大學
  • English
  • 中文 (台灣)
Search