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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University

Author: idiotj2002dm

刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Building empirical model through simulation a case study

Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Silicon-to-silicon wafer bonding by tempered sol-gel intermediate layer

Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Identifying key parameters for risk based inspections (RBI) and failure mode effect analysis (FMEA) (invited)

Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Application of FMEA for build-in reliability and maintenance (invited)

Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Finite element modeling of internal mechanical stress in partial SOI structure during wafer bonding processing

Byidiotj2002dm 2004 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Comparison of the time-dependent physical processes in the electromigration of deep submicron copper and aluminum interconnects

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Effect of temperature uniformity of hot chuck on wafer level reliability electromigration test

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Investigation of the physical processes during electromigration of ULSI interconnection (invited)

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Effects of Cu surface cleanness on electromigration reliability of Cu interconnects

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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刊物 Publication | 會議論文 Conference Paper | 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

Overcoming intrinsic weakness of ULSI metallization on electromigration performances

Byidiotj2002dm 2003 年 1 月 1 日2021 年 4 月 14 日

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TEL:886-3-2118800 ext 3872
E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
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