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可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
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    Finite element modeling of residual mechanical stress in partial SOI structure due to wafer bonding processing

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Reliabiilty Analysis and Application with MATLAB (invited)

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Low temperature wafer bonding in medium vacuum

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Building empirical model through simulation a case study

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Silicon-to-silicon wafer bonding by tempered sol-gel intermediate layer

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Identifying key parameters for risk based inspections (RBI) and failure mode effect analysis (FMEA) (invited)

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Application of FMEA for build-in reliability and maintenance (invited)

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Finite element modeling of internal mechanical stress in partial SOI structure during wafer bonding processing

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

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    Non-destructive void size determination in copper metallization under passivation

    期刊 Journal Paper

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    Temperature and stress distribution in the SOI structure during fabrication

    期刊 Journal Paper

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