跳至主要內容
可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
搜尋
  • 首頁
  • 中心簡介
    • 主任介紹 Director
    • 主任的話 Message
    • 中心願景 Vision&Mission
    • 可靠度學程 Program
    • 獲獎 Awards
    • 組織架構 Organization
  • CReST談話
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album
  • 研究群
  • 實驗室核心
    • 設備 Equipment
    • 軟體 Software
    • 合作 Cooperation
  • 研究成果
  • 刊物
    • 著作 Book
    • 著作章節 Book chapters
    • 期刊 Journal Paper
    • 會議論文 Conference Paper
  • 聯絡
  • 網站導覽
  • 長庚大學
  • English
  • 中文 (台灣)
  • 長庚大學
    • English
    可靠度科學技術研究中心 CREST, Chang Gung University
    • 首頁
    • 中心簡介
      • 主任介紹 Director
      • 主任的話 Message
      • 中心願景 Vision&Mission
      • 可靠度學程 Program
      • 獲獎 Awards
      • 組織架構 Organization
    • CReST談話
      • 中心季刊 Newsletter
      • 影像集 Album
    • 研究群
    • 實驗室核心
      • 設備 Equipment
      • 軟體 Software
      • 合作 Cooperation
    • 研究成果
    • 刊物
      • 著作 Book
      • 著作章節 Book chapters
      • 期刊 Journal Paper
      • 會議論文 Conference Paper
    • 聯絡
    • 網站導覽
    • 長庚大學
    • English
    • 中文 (台灣)
  • 長庚大學
    • English

    Effect of test condition and stress free temperature on the electromigration failure of Cu dual damascene submicron interconnect line-via structures

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Effect of test condition and stress free temperature on the electromigration failure of Cu dual damascene submicron interconnect line-via structures 閱讀全文 »

    Effect of medium vacuum on low temperature wafer bonding

    期刊 Journal Paper

    Effect of medium vacuum on low temperature wafer bonding 閱讀全文 »

    Mechanism of sol-gel intermediate layer low temperature wafer bonding

    期刊 Journal Paper

    Mechanism of sol-gel intermediate layer low temperature wafer bonding 閱讀全文 »

    Study of carbon in thermal oxide formed on 4H-SiC by XPS

    期刊 Journal Paper

    Study of carbon in thermal oxide formed on 4H-SiC by XPS 閱讀全文 »

    Mechanical properties of Zirconia Thin Films deposited by filtered cathodic vacuum arc

    期刊 Journal Paper

    Mechanical properties of Zirconia Thin Films deposited by filtered cathodic vacuum arc 閱讀全文 »

    Feasibility of capacitive coupling voltage contrast (CCVC) for the failure analysis of advanced printed circuit board

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Feasibility of capacitive coupling voltage contrast (CCVC) for the failure analysis of advanced printed circuit board 閱讀全文 »

    Sol-gel coating facilitating Si-to-Si wafer bonding at low temperature

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Sol-gel coating facilitating Si-to-Si wafer bonding at low temperature 閱讀全文 »

    Examine the impact of maintenance policy for predictive maintenance

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Examine the impact of maintenance policy for predictive maintenance 閱讀全文 »

    New analysis technique for time to failure data in copper electromigration

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    New analysis technique for time to failure data in copper electromigration 閱讀全文 »

    Effect of high voltage annealing on the field emission of multi-walled carbon nanotube film

    刊物 Publication, 會議論文 Conference Paper, 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming

    Effect of high voltage annealing on the field emission of multi-walled carbon nanotube film 閱讀全文 »

    ← Previous 1 ... 46 47 48 ... 56 Next →
    • 中心公告
    • 刊物 Publication
      • 著作 Book
      • 會議論文 Conference Paper
        • 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming
        • 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling
        • 李坤穆 Dr. Kun-Mu Lee
        • 陳効謙 Dr. Hsiao-Chien Chen
      • 期刊 Journal Paper
        • 陳始明 Dr. Tan, Cher Ming
        • 高瑄苓 Dr. Kao,Hsuan-Ling
        • 李坤穆 Dr. Kun-Mu Lee
        • 趙自強 Dr. Chao TC
        • 陳効謙 Dr. Hsiao-Chien Chen
      • 著作章節 Book chapters
    • 中心季刊 Newsletter
    • 影像集 Album

    近期文章 Recent Posts

    • 【演講公告】2026.10.15「基於物理的驗證以支持數據驅動範式」德國尤利希研究中心客座教授,廖博彥博士
    • 2026年度「全球前2%頂尖科學家(World’s Top 2% Scientists)」陳始明教授
    • 2025年度「全球前2%頂尖科學家(World’s Top 2% Scientists)」陳始明教授
    • 2023年度「全球前2%頂尖科學家(World’s Top 2% Scientists)」陳始明教授
    • Newsletter No.10 Apr. 2026

    標籤 Tags

    Battery (15) Devices Reliability (27) Electromagnetics (10) Failure Analysis (16) General Reliability (3) Integrated Circuit Reliability (13) Interconnects Reliability (80) LED Reliability (36) Memory (1) Nanotechnology (46) Others (32) Predictive Maintenance (3) Predictive Maintenance/ Prognosis and Health Mgt (7) Prognosis and Health Mgt (16) Quality (8) Quantitative Service Reliability Assessment on Single and Multi Layer Networks (5) Radiation (7) Reliability Statistics (12) Remanufacturing (2) Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry (2) Wafer Bonding (19)

    333323桃園市龜山區文化一路259號第二醫學大樓4樓
    4th Floor, 2nd Medical Science Building, No.259, Wenhua 1st Rd., Guishan Dist., Taoyuan City 33302, Taiwan (R.O.C.)
    TEL:886-3-2118800 ext 3872
    E-Mail:crest@mail.cgu.edu.tw
    網站內容為長庚大學可靠度科學技術研究中心所有,未經允許請勿轉載
    Copyright ©Center for Reliability Sciences & Technologies, Chang Gung University

    • FB
    • Linkedin